测量 tanδ能有效判别设备绝缘中的一些集中性缺陷 。

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本题解析： 暂无解析

更新时间：2021-10-30 23:30

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单选题

• A.1∶1
• B.1∶（-1）
• C.1∶2
• D.1∶（-2）

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单选题

• A.见图A
• B.见图B
• C.见图C
• D.见图D

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单选题

• A.见图A
• B.见图B
• C.见图C
• D.见图D

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单选题

• A.0.65cm
• B.4.02cm
• C.0.223cm
• D.0.472cm

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单选题

• A.见图A
• B.见图B
• C.见图C
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单选题

• A.0.273；－48
• B.0.273；48
• C.0.294；－48
• D.0.294；48

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单选题

• A.0.500；+5.0kN·m
• B.0.571；+10.0kN·m
• C.0.625；+10.0kN·m
• D.0.667；+5.0kN·m

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单选题

图示结构，各杆EI=常数，不计轴向变形，MBA及MCD的状况为:

• A.MBA≠0，MCD=0
• B.MBA=0，MCD≠0
• C.MBA=0，MCD=0
• D.MBA≠0，MCD≠0

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单选题

• A.－Fl/8
• B.－Fl/9
• C.Fl/8
• D.Fl/9

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单选题

• A.-12
• B.-6
• C.5
• D.8

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